- 优质高精度平行平晶 平面平晶
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品牌:INSIZE/英示 型号:4184-41A 加工定制:是 适用范围:千分尺计量检验 精度:0.001mm 测量范围:0-25 mm 优质高精度平行平晶 平面平晶
优质高精度平行平晶 平面平晶介绍:
与平面平晶相似,把它与加工镜面相接触,就会产生干涉条纹,通过对此干涉条文的测量,可以求得工件被加工镜面的平面度和平行度。平行平晶的两面均为高精度的平整镜面,且相互间的平行度很高,适用于检测各种计量器具的测量工作面的平面度及平行度。平行平晶共分为4个系列,每个系列各分六组,每组四块。
平晶产品规格:
每组平行平晶共四块,分四个尺寸系列组
测量面上平面度偏差:<0.1UM
平行度局部偏差: >0.03UM
测量面平行度误差:组1系列允许差值:0.06UM,
组2、3系列允许差值:0.08UM,
组4系列允许差值:0.1UM。
组1
平行平晶
0-25mm
4块/组
组2
平行平晶
25-50mm
4块/组
组3
平行平晶
50-75mm
4块/组
组4
平行平晶
75-100mm
4块/组
优质高精度平行平晶 平面平晶尺寸系列表
组号
0-25
25-50
50-75
75-100
1
15.00, 15.12
15.25, 15.39
40.00, 40.12
40.25, 40.37
65.00, 65.12
65.25, 65.37
90.00, 90.12
90.25, 90.37
2
15.12, 15.25
15.37, 15.50
40.12, 40.25
40.37, 40.50
65.12, 65.25
65.37, 65.50
90.12, 90.25
90.37, 90.50
3
15.25, 15.37
15.50, 15.62
40.25, 40.37
40.50, 40.62
65.25, 65.37
65.50, 65.62
90.25, 90.37
90.50, 90.62
4
15.37, 15.50
15.62, 15.75
40.37, 40.50
40.62, 40.75
65.37, 65.50
65.62, 65.75
90.37, 90.50
90.62, 90.75
5
15.50, 15.62
15.75, 15.87
40.50, 40.62
40.75, 40.87
65.50, 65.62
65.75, 65.87
90.50, 90.62
90.75, 90.87
6
15.62, 15.75
15.87, 16.00
40.62, 40.75
40.87, 41.00
65.62, 65.75
65.87, 66.00
90.62, 90.75
90.87, 91.00
优质高精度平行平晶 平面平晶应用领域
平行平晶适用于干涉法测量千分尺、卡规和千分表等测量面平面度、平面平行度,。也适用于高等院校、科学研究等单位做平行度等检测
供应江苏平行平面平晶,无锡平行平面平晶,江阴平行平面平晶,宜兴平行平面平晶,苏州平行平面平晶,昆山平行平面平晶,常熟平行平面平晶,张家港平行平面平晶,常州平行平面平晶,镇江平行平面平晶,丹阳平行平面平晶,南京平行平面平晶,扬州平行平面平晶,泰州平行平面平晶,靖江平行平面平晶,南通平行平面平晶,盐城平行平面平晶
一、简介
平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差,为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的,用于测量两高光洁表面的平行度误差,例如千分尺两测量面的平行度误差.平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为 45~150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为0.03~0.05微米;2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。
二、用途
平行平晶是用于以干涉法测量块规,以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测 平晶量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用,也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测三、规格1、平面平晶 YDF-1 标准外形尺寸 单位:mm规格30 45 60 80 100 150 200 250直径30 45 60 80 100 150 200 250高度15 15 20 20 25 30 40 45 平晶特殊规格尺寸平面平晶,环形平面平晶,方形平面平晶可定做.2、平面平晶制成两种精度: 1级 和 2级3、平面平晶工作面的平面度偏差允许值为:直径为 30至60mm 1级平晶 0.03μm直径为 30至60mm 2级平晶 0.1 μm直径为 80至150mm 1级平晶 0.05μm直径为 80至150mm 2级平晶 0.1 μm更大尺寸平面平晶平面度偏差允许值,根据国家标准。4、平面平晶工作面的局部偏差允许值为: 0.03μm5、平面平晶测量工作应在室温2 0℃±3℃条件下保持数小时后进行。四、测量方法
平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差的,故其测量方法称为平晶干涉法(图2),也称技术光波干涉法。测量时,把平晶放在被测表面上,且与被测表面形成一个很小的楔角 θ,以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面,且平晶与被测表面间的间隙很小,则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下,则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹平直,相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好;如干涉条纹弯曲,则表示平面度不好。其误差值为f= (v/ω)×(λ/2)λ为光波波长,白光的平均波长为0.58μm,ν为干涉带弯曲量,ω为干涉带间距。材 料 BK7、石英 直 径 25mm—350mm 厚 度 0mm~25mm;25mm~50mm;50mm~75mm;
75mm~100mm;100mm~125mm;125mm~150mm
150mm~175mm;175mm~200mm平 面 度 0.03um 表面質量 60—40 平 行 度 0.2um
注:可根据用户需求订制 -